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Sun創(chuàng)建世界上第一個大規(guī)模RFID試驗設(shè)施

2006-06-28 10:18 RFID世界網(wǎng)
關(guān)鍵詞:SunRFID試驗APTLouisville

導讀:Sun新的RFID試驗中心將開始投入使用。它坐落在丹佛郊區(qū)公司的Louisville校園里,離Sun APT試驗室不遠。該RFID試驗中心在世界上率先將以環(huán)境為重點的大規(guī)模測試與綜合互用性和標準檢測相結(jié)合。關(guān)于Sun RFID解決方案和Sun RFID試驗中心的詳細資料,請登錄www.sun.com/rfid。

 Sun Microsystes宣布已將它的RFID試驗中心和先進產(chǎn)品測試(APT)環(huán)境試驗室整合起來了,以滿足客戶不斷增長的需要,為客戶試驗各供應商的RFID、傳感器解決方案的互用性是否符合要求,是否達到工業(yè)標準,是否能在現(xiàn)實世界極端環(huán)境下使用。

世界各地的公司已使用Sun RFID試驗中心模擬部署過許多RFID和傳感器系統(tǒng),以檢驗解決方案的互用性以及是否符合工業(yè)技術(shù)標準要求。

為了更好與Sun APT環(huán)境試驗室整合,Sun RFID試驗中心已從德克薩斯搬遷到科羅拉多,提高了在酷熱、嚴寒、沖擊、潮濕、振動、高度和壓力等不利環(huán)境條件下測試RFID和傳感器解決方案的能力。

“我們RFID試驗中心在幫助客戶邁出執(zhí)行綜合RFID解決方案第一步方面一直很成功。這些解決方案是可互用的,符合工業(yè)標準和要求,”Sun Microsystems公司RFID設(shè)施主任Jim Del Rossi說?!拔覀僐FID試驗中心與APT實驗室相結(jié)合,就可讓我們的客戶邁出第二步,即進行現(xiàn)實世界中的大規(guī)模試驗,以檢驗RFID解決方案是否能在軍事、海運、航空、醫(yī)療及其他嚴酷的現(xiàn)場環(huán)境中經(jīng)受住考驗?!?BR>
Sun新的RFID試驗中心將開始投入使用。它坐落在丹佛郊區(qū)公司的Louisville校園里,離Sun APT試驗室不遠。該RFID試驗中心在世界上率先將以環(huán)境為重點的大規(guī)模測試與綜合互用性和標準檢測相結(jié)合。關(guān)于Sun RFID解決方案和Sun RFID試驗中心的詳細資料,請登錄www.sun.com/rfid。

Coors Brewing公司的高級包裝經(jīng)理Ray Toms說:“我們從1991年起就使用APT的各種試驗設(shè)施,從2004年起開始使用Sun RFID試驗中心。我們期待這些試驗功能整合起來,未來能提高測試能力?!?BR>
Sun APT實驗室的客戶除了Coors公司外,還有百事、惠普、Eeagate、Maxtor和Ball Aerospace。Sun RFID中心已為幾千個客戶進行了試驗,包括Coors、Goodyear和Clorox。